Positive Technologies представила LFI-26 для лазерного тестирования защиты микросхем

Positive Labs, R&D-центр российского разработчика средств кибербезопасности Positive Technologies, разработал комплекс LFI-26 для проверки микросхем методом Laser Fault Injection. Компания называет его первым российским решением такого класса; стенд нужен для оценки стойкости чипов к аппаратным атакам в платежных, мобильных, автомобильных и IoT-устройствах.

Positive Labs, R&D-центр российского разработчика средств кибербезопасности Positive Technologies, разработал лазерный комплекс LFI-26 (Laser Fault Injection) для проверки защищенности микросхем. О разработке на Петербургском международном экономическом форуме рассказал руководитель центра Алексей Усанов; по данным «Ведомостей», в России такие устройства прежде не производились.

Метод LFI используется в аппаратной безопасности: сфокусированное лазерное излучение вносит управляемые сбои в работу чипа, а исследователи проверяют, можно ли обойти защитные механизмы или извлечь данные. Такие испытания применимы к микросхемам банковских карт, криптокошельков, смартфонов, устройств интернета вещей, автомобильных блоков управления и спутниковой аппаратуры.

До 2022 года российские организации могли закупать оборудование для таких исследований у зарубежных поставщиков, в том числе французской ALPhANOV и нидерландской Riscure. По словам Усанова, без подобных стендов нельзя полноценно анализировать безопасность иностранных чипов и подтверждать качество защиты отечественной элементной базы.